Primeiro Dia (terça-feira)

Revisão Difração de Raios X – Conceitos instrumentais e conceitos básicos de cristalografia
Preparação de amostras
Informações contidas no difratograma: Posições dos picos, intensidades relativas e perfil dos picos
Visão panorâmica do software de tratamento de dados HighScore Plus:
Princípios do Refinamento pelo Método de Rietveld
Trabalhos com exemplos de refinamentos

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