Introdução à Nanofabricação Eletroquímica e Caracterização de Superfícies por AFM

Conteúdo

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Aula 01 – Parte 01
2
Aula 01 – Parte 02
3
Aula 02
4
Aula 03
5
Aula 04
6
Aula 05

Notas de Aula

1
Aula 1: Introdução à nanotecnologia
2
Aula 2: Introdução à nanofabricação eletroquímica
3
Aula 3: Introdução à anodização

Este curso se constitui de 2 partes, onde se pretende apresentar uma visão geral dos assuntos tratados, suficientes para motivar os interessados a iniciar algum trabalho no tema.

As técnicas eletroquímicas, devido a seu custo relativamente baixo, quando comparadas com técnicas de vácuo, são uma ótima alternativa para aqueles que desejam se iniciar na fabricação e estudo de estruturas nanométricas, como filmes finos, nanofios, nanocilindros, nanodots e nanopartículas em geral.

Após serem produzidas, por qualquer técnica, as estruturas devem ser observadas e inspecionadas. Uma ferrramenta importante engloba as técnicas denominadas de Microscopia de Varredura de Força (SFM – Scanning Force Microscopy) que possibilitam o mapeamento de superfícies, através de uma ponta adequada. Em grande parte das vezes tais medidas podem ser efetuadas em condições ambientes. O resultado de tal mapeamento será então um conjunto de coordenadas 3D (xyz), onde x e y serão geométricas (superficiais) e a 3ª será proporcional à propriedade mapeada. As grandezas mais comumente caracterizadas por AFM são topografia, propriedades mecânicas e conformação magnética, entre outras. Nessa Introdução serão passadas noções suficientes para o entendimento de tais técnicas e suas aplicabilidades básicas, de tal forma que o aluno seja capaz de poder optar por alguma dessas em seus trabalhos no futuro.

Bibliografia:

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21) VOIGTLÄNDER, B., “Scanning Probe Microscopy – Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy”, Springer-Verlag, Berlin Heidelberg, 2015.

22) DUWEZ, A. e WILLET, N., “Molecular manipulation with atomic force microscopy”, CRC Press, 2012.

23) HAUGSTAD, G.(auth.), “Atomic Force Microscopy – Understanding Basic Modes and Advanced Applications”, Wiley, 2012.

24) BELLITTO, V., “Atomic Force Microscopy – Imaging, Meas., Manip. Surfs. at the Atomic Scale”, Intech, 2012.

Manuais dos Nanoscópios NT-MDTTM e BrukerTM.

Artigos Variados.

 

Pré-requisitos:

Estar cursando ou haver cursado Graduação em Ciências Exatas ou Biológicas

Professor

  • Jose Gomes Filho (CBPF)
  • Bruno Silva (CBPF)
Horário: 10:00 às 12:00
Aulas: 5
Duração: 10 horas
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